高周波ラバーシート U-Rubber

半導体テスト工程をアップグレード

半導体の高性能化に伴い高周波特性の良い多極接続が求められます。
半導体テストは一括で数万ピンの検査を行うため、
コンタクトの接圧を受けるテスタへの負荷は数10トンにもおよび装置の設計難易度、寿命に大きな影響を与えます。また、デバイスの多層積層化により、半導体の配線そのものが脆弱になる傾向となるため、テスト時の外力負荷低減は必須です。従って、高性能半導体用接続には、高周波特性をもちかつ数万ピンの接圧を検査側の負担を軽減するために
コンタクトの接圧荷重を極力抑えたデザインが求められます。

U-Rubberは特殊な金属Union-Alloyを使い高い導電性をベースに最適なコンタクトをデザイン。UPTが独自開発した特殊シリコーンにコンタクトを埋め込み1コンタクトあたり10-25gの低荷重を実現しています。

U-Rubberは多ピン半導体検査には最適なソリューションです。是非ご検討ください。

高周波導電性ラバーシート
U-Rubber

高周波導電性ラバーシート<br />
U-Rubber

U-Rubber詳細

U-Rubber詳細

U-Rubber特長

U-Rubber特長

U-Rubber特長 1 自由なデザイン

U-Rubber特長 1 自由なデザイン

U-Rubber特長 2 省スペース

U-Rubber特長 2 省スペース

U-Rubber特徴 3  長寿命

U-Rubber特徴 3  長寿命

U-Rubber特長 4 高周波・高電流

U-Rubber特長 4 高周波・高電流

U-Rubber特長 5 低荷重

U-Rubber特長 5 低荷重

U-Rubber特長 6 狭ピッチ

U-Rubber特長 6 狭ピッチ