高周波ラバーシート U-Rubber

半導体テスト工程をアップグレード

各種情報・映像サービスの急速な普及により、半導体の高周波・広帯域対応の重要性はさらに高まっています。
そして半導体の小型化に伴い、より挟ピッチ・多ピンでの接続が求められています。
半導体テストは一括で数万ピンの検査を行うため、
コンタクトの接圧を受けるテスタへの負荷は1コンタクトあたり0.49Nトータル数10トンにもおよび、設備の設計難易度と寿命に大きな影響を与えます。その為、テスト時のコンタクトへの接圧荷重低減は必須です。
従って、多ピン・高周波帯域対応半導体用接続には、高周波特性を持ち、かつ数万ピンの接圧を検査側の負担を軽減するためにコンタクトの接圧荷重を極力抑えたデザインが求められます。

U-Rubberは高い導電性を持つ特殊な金属Union-Alloy使用し、最適なコンタクトをデザイン。
UPTが独自開発した特殊Rubberにコンタクトを埋め込み、1コンタクトあたり0.098N-0.240Nの低荷重を実現しました。

U-Rubberは、多ピン・高周波・広帯域対応半導体検査に最適なソリューションです。

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高周波導電性ラバーシート
U-Rubber

高周波導電性ラバーシート<br />
U-Rubber

U-Rubber 詳細

U-Rubber 詳細

U-Rubber 特長

U-Rubber 特長

U-Rubber 特長1 自由なデザイン

U-Rubber 特長1 自由なデザイン

U-Rubber 特長2 省スペース

U-Rubber 特長2 省スペース

U-Rubber 特徴3  長寿命

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U-Rubber 特長4 高周波・高電流

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U-Rubber 特長5 低荷重

U-Rubber 特長5 低荷重

U-Rubber 特長6 狭ピッチ

U-Rubber 特長6 狭ピッチ