半導体検査において、プローブピンの荷重によりPCBテストボードの電極に傷やダメージが発生することは、製品の品質保証において大きな問題となります。UPTでは、当社開発製品であるUHSS®をプローブピンとPCBテストボードの電極の間に挟み込むことで、ダメージを軽減し、安定したテスト環境を提供することに成功しました。
プローブピンの高荷重が引き起こす問題について
半導体テストにおいて、プローブピンの高荷重はPCBテストボードの電極に深刻なダメージを与える可能性があります。特に、電極の表面に傷や凹みが生じると、接触不良が発生し、テストの信頼性が低下します。高荷重による繰り返しテストは、電極の摩耗を促進し、結果として抵抗値の変動を引き起こすため、正確なテストが難しくなります。さらに、プローブピン自体が変形したり破損したりすることで、接触位置のずれが生じ、誤ったデータが読み取られるリスクが高まります。これらの問題を避けるためには、プローブピンの荷重を適切に管理し、過度な力がかからないようにすることが重要です。
活用事例｜PCB電極用のセーバー
プローブピンの荷重によりPCBテストボードの電極に傷やダメージが発生する問題に対し、プローブピンセーバーにより解決した事例をご紹介します。
【お客様の課題】
半導体ICファイナルテストにおいて、従来使用していたポゴピンなどのテストプローブピンでは、高加重によりPCBテストボードの電極に傷やダメージが発生していました。
【UPTの提案と解決策】
プローブピンセーバーとしてUHSS®をテストプローブピンとPCBテストボードの電極の間に挟むことで、PCBテストボードへのダメージの発生を防ぎました。
異方性導電シート：UHSS®（Union High Speed Sheet）の紹介
UHSS®は、特殊な繊維を編み込み、両⾯を貫通するめっきを施した異⽅性導電シートです。この製品の特徴は、折り曲げても導通を維持する柔軟性、⾼度なカスタマイズ性、そして100GHzまたは200Gbpsに対応可能な⾼速信号特性が挙げられます。必要な通電荷重は1N/㎟と低く、さらに5万回の使⽤に耐える⾼耐久性を備えています。（当社調べ）
