プローブピンへの半田転写と、半田ボールへのダメージを防止する

Probe Pin Saver(プローブピンセーバー)は、半導体パッケージの電気検査時に発生するプローブピンへの半田転写、ピンの先端摩耗及び、半導体パッケージの半田ボールダメージを抑制する異方性導電シートです。

半導体パッケージとプローブピン間へ挟んでご使用頂くことで、半田ボールとプローブピンのハードな接触を回避しますので、半田ボールに与えるダメージを軽減すると同時に、プローブピン寿命を延ばすことが可能となります。
これにより、プローブピンに対する半田転写によるメンテナンス工数削減も見込めるため、検査全体の効率向上が図れます。

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プローブピンの課題

1.ピンの寿命

はんだ転写等によるオープン不良がピン寿命となる

2.メンテ対応のダウンタイム

ピン及びソケット交換などによる測定ダウンタイム

ご提案内容

プローブピンセーバー(PPS)をテストターゲットとプローブピンの間に挟む

ご提案メリット

  • プローブピンの接触によるダメージから半田ボールを守ります
  • プローブピンの先端をピュアスズなどのはんだ転写から守ります
  • 導通不良の原因の半田転写を防ぐことでソケット寿命を延ばします
  • ソケットのメンテナンスはプローブピンセーバーを変えるだけの簡易メンテナンス
  • BGA / QFN / SON / QFP / SOP / WLCSP などの各種パッケージに対して高い接触安定性が得られます

使用事例

WLCSPとプローブピンの間にプローブピンセーバーを挟み込む

プローブピンセーバーを挟む込む

プローブピンセーバーのポイント

  • 半導体パッケージとプローブピンの直接接触を回避
  • メンテナンスが一瞬で完了
  • 接触安定性が抜群に高い