半導体テスト⽤プローブピン Union Contact™

半導体テストにおいて、テストプローブピンはデバイスとテストシステム間で正確な電気測定と信号伝送を行うために欠かせない重要な部品です。

UPTのテストプローブピン「Union Contact™ 」は、独自の一体型構造を採用しており、優れた導電性、低い接触荷重、そして高い耐久性を実現しています。これにより、メンテナンスの手間とコストを削減できます。

お客様の仕様に合わせたカスタム設計にも対応しています。信頼性が高く高性能なプローブピンをお求めなら、ぜひUPTにご相談ください。

テストプローブピンは、半導体テスト装置で使用される高精度な接触部品で、電気特性の測定や信号の正確な伝送を担います。

これらはテストシステムと半導体デバイスの間に一時的な電気的接続を形成し、検査工程において信号を確実に伝達し、安定した測定を実現します。

⼀般的なプローブピンは、バレル、スプリング、ブランジャーなど、複数の部品から構成されるため、部品間の接触抵抗により導電性が低くなりがちです。また、摩擦やスプリングの⼒により⾼荷重となり、部品の摩耗や破損で寿命が短くなることが多くあります。

⼀般的なプローブピンとの違い

「Union Contact™」は独⾃のワンピース構造を採⽤し、部品が⼀体化されています。これにより、部品間の接触抵抗がなく、⾼い導電性と低抵抗を実現、部品間の摩擦もなく低荷重で動作します。また、部品間の摩耗がないため⻑寿命であり、コスト削減にも貢献します。

「Union Contact™」はお客様が抱えている課題や使⽤環境に合わせて設計・製造するため、特定の使⽤環境や技術課題にも対応いたします。

半導体の信頼性実験

半導体製品の性能と耐久性を評価する際の試験⽤プローブピンとして「Union Contact™」は活⽤可能です。⾼導電性、低荷重により正確で信頼性の⾼いデータ取得を可能にし、安定性の⾼いプローブピンとして、試験の効率性アップに寄与します。

インターポーザ

インターポーザは、異なる回路間の信号伝達をサポートする中間接続基板です。「Union Contact™」は、インターポーザとしても優れた性能を発揮します。⾼い導電性、低荷重、長寿命により信号の伝達効率が向上し、正確なデータ取得が可能です。また、⻑寿命設計により、メンテナンスコストの削減にも寄与します。