在半導體IC的最終測試中，隨著半導體技術的快速進步，毫米波段的高頻率對應變得越來越重要。然而，傳統的接觸探針經常面臨難以準確測試評估高頻率特性的情況。因此，UPT開發的探針「U-Contact」採用了獨特的一體式結構，實現了穩定的高頻率特性測量，並進一步提升了耐久性。
高頻率特性測量困難的理由
接觸探針難以擦拭高頻率特性的主要原因是信號損失和接觸不良，以及零部件數量多所帶來的影響。首先，傳統的接觸探針在高頻率信號傳輸過程中容易發生信號損失。特別是，接觸探針具有許多可動部位，涉及多個組件，因此各接觸點和零部件之間的微小間隙和阻抗會導致信號衰減，從而降低測量精度。頻率越高，這種衰減的影響會變得越明顯。
此外，接觸不良也是一個重大的問題。探針在頻繁使用或長時間使用後，接觸面發生劣化，造成接觸阻抗增加，進一步導致信號劣化。探針的零部件數量多會增加劣化的風險，使得穩定的高頻率信號傳輸變得更加困難。這些因素導致精密測量變得困難，因此提高耐久性也成為一個重要挑戰。
應用事例：對應高頻率特性測量的接觸探針
下列介紹的事例是本公司針對現在使用中的探針無法穩定測量高頻率特性的問題，將具有獨特一體結構的探針「U-Contact」根據顧客的要求規格進行了客製化，並成功解決了這一問題。
【顧客面臨的問題】
隨著記憶體IC和邏輯IC的高頻率化，在這些IC搭載的模組產品的最終測試中，傳統的測試探針無法實現穩定的測量，因此需要能夠對應高頻率的接觸探針。
【UPT的解決方案】
本公司建議顧客使用具有簡單一體式接觸形狀的「Union Contact™」。與傳統探針相比，「Union Contact™」具有優越的高頻率特性，並具有不低於傳統探針的耐久性。
半導體測試用探針： Union Contact™產品介紹
「Union Contact™」是採用獨特的一體式構造的半導體測試用探針。與一般的探針針相比，「Union Contact™」實現了更高的導電性、低阻抗和低負荷。此外，由於其壽命長，也有助於顧客降低成本。因此能夠進行高效率、高可靠性的半導體測試。
