在半導體IC的最終測試中，隨著半導體技術的快速進步，毫米波段的高頻率對應變得越來越重要。然而，傳統的接觸探針以及導電膠插座經常面臨難以準確測試評估高頻率特性的情況。因此，UPT開發的半導體測試插座「ＭＭＳ」採用了獨特的一體式結構，實現了穩定的高頻率特性測量，並進一步提升了耐久性。
高頻率特性測量困難的理由
難以測量高頻率特性的主要原因是信號損失和接觸不良所帶來的影響。首先，傳統的測試插座在高頻率信號傳輸過程中容易發生信號損失。特別是，接觸探針具有許多可動部位，涉及多個組件，因此各接觸點和零部件之間的微小間隙和阻抗會導致信號衰減，從而降低測量精度。頻率越高，這種衰減的影響會變得越明顯。
此外，接觸不良也是一個重大的問題。傳統的測試插座在頻繁使用或長時間使用後，接觸面發生劣化，造成接觸阻抗增加，進一步導致信號劣化。因此，穩定的高頻率信號傳輸變得更加困難，難以實行精密的測量。由於這些原因，高頻特性的精確測量需要更高精度且穩定的接觸方式。
應用事例：對應高頻率特性測量的測試插座
下列介紹的事例是本公司針對現在使用中的探針和導電膠插座無法穩定測量高頻率特性的問題，將具有獨特一體結構的測試插座「ＭＭＳ」根據顧客的要求規格進行了客製化，並成功解決了這一問題。
【顧客面臨的問題】
在需要對應毫米波高頻的半導體IC封裝測試中，構造上由多個部件組成的彈簧針以及傳統的導電膠插座，難以實現穩定的高頻特性測量。
【UPT的解決方案】
具有一體結構的「MMS」標準產品具有穩定的高頻特性。我們通過進行高頻模擬，並根據客戶的需求規格對MMS的一體形狀進行客制化，成功解決了這些問題。
半導體測試插座：MMS（Micro Metal Socket®）的產品介紹
MMS是一種順應半導體進化的劃時代測試插座。著眼於5G與AI時代，隨著高頻率和大電流的需求增加，半導體測試也需要支持同樣的需求。此外，還需要能夠適應半導體的小型化和端子的窄間距化的測試插座。 MMS 能夠滿足這些要求，並為下一代半導體的開發和製造做出貢獻。
