隨著半導體的性能不斷提升，在測試工程中對於「高頻對應能力」與「接觸穩定性」的要求也日益提高。特別是對於在封裝測試工程（Final Test）中使用的接觸探針，即使是極其細微的接觸不良，都可能導致測試精度下降。使用UPT 開發的探針 Union Contact™ 則能夠解決這些課題。其獨特的一體式（One-piece）結構，同時實現了高頻量測的穩定性與優異的耐久性。
導致探針接觸不良的原因
半導體封裝的最終測試（Final Test）需要精確測量極為細微的訊號。然而，傳統的接觸式探針由多個零組件組裝而成，因此容易產生以下問題，導致在許多情況下難以進行穩定的測試。
- 接觸部位的電阻變化
- 長期使用老化導致導電性降低
- 在高頻領域中的訊號反射與損耗
這些問題是造成「接觸不良」與「測試結果變動」的主要原因。
活用案例｜Union Contact Block（UCB）
UPT 開發的 Union Contact Block（UCB），是一款應用 Union Contact™ 技術製造的高頻對應插座。
在無線通訊用半導體的測試中，針對傳統產品難以實現穩定高頻測量的課題，通過獨特的設計與結構，實現了大幅度的改善。
客戶面臨的課題
客戶在無線通訊用半導體裝置的測試過程中，具有以下需求：
- 確保對應高頻頻段的測量精度
- 對應客戶指定的行程值（針腳伸縮量）
- 提升測試插座的可靠性與維護性
以往的接觸式探針，難以穩定測量高頻信號，且在測量重現性與耐久性方面存在課題。
UPT的提案與解決方案
UPT建議客戶使用符合要求規格的Union Contact™採用插座。
應用客製化設計對應最適的壓縮行程
根據客戶要求的壓縮行程設計全新的探針結構。通過一體式（One-piece）結構實現高精度的尺寸管理，達成穩定的接觸性能。
改善高頻特性
採用以蝕刻加工製成的一體式探針，縮短了訊號路徑，實現適合高頻測試的低反射、低損耗結構。
高耐久性與優異的維護性
通過長壽命設計降低探針更換頻率。此外，依據客戶裝置結構客製化探針配置，並採用可更換單支探針的結構設計。
通過上述提案，同時解決了客戶所面臨的「高頻測試不穩定」與「插座壽命短」的問題，實現了測試效率提升與成本降低的雙重效果。
半導體測試用探針：Union Contact™ 的介紹
「Union Contact™」是一款採用一體式（One-piece）獨特結構的半導體測試用探針。與一般的探針相比，可實現更高的導電性、低電阻及低荷重。此外，由於具有較長的使用壽命，能為客戶大幅降低成本。因此可實現高效率且高可靠性的半導體測試。
